两个内置信号源的性能增强也会简化放大器和混频器测量。例如,测试端口可利用的大信号功率通常为+13至+20 dBm(取决于型号和频率)。这对将放大器驱动到非线性区很有帮助,并且在把信号源用作测试混频器的LO信号时也经常要这样。这两个内置信号源的谐波成分也非常低(通常为–60 dBc 或更低),从而提高谐波和IMD测量的精度。此外,典型置为40 dB的功率扫描范围使得在表征放大器的特性时很容易就可以让放大器从线性工作范围转化到非线性工作范围。
阻抗测量:在时域中,系统内每个器件的 S11 都可以被看作是对冲激或阶跃函数的响应。这种时域响应可以提供每个电路元器件的位置和实际阻抗。选通:通过时域选通,你可以单独查看每个元器件的响应,将注意力放到你所关注的响应上,从而简化分析工作,更容易地进行设计和调试。
技能2:频谱分析过去,二手网络分析仪,工程师们使用频谱分析仪和信号发生器来查找杂散。使用外部频谱分析仪查找杂散需要将器件连接到信号分析仪和信号发生器上,通过扫描来查找杂散,二手网络分析仪出租,较为费时。
内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器,二手网络分析仪服务商,测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用,在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描,但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比,使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善(使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍)。
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